一站式整线设计
- 整线解决方案 · 从设备到量产植入
- 关键核心设备自研自产,加工设备定制甄选,覆盖清洗→离子注入→键合→超原子束Trim→氧化/多晶→裂片/退火,完整工艺闭环。
工艺赋能:H-CUT工艺路线 / GRD+TRIM工艺路线 · 量产植入 · 技术迭代
- 清洗设备
- 专为2-12英寸硅片及化合物半导体衬底设计的高精密湿法清洗设备,在独立密闭腔体内单次处理一片晶圆。核心配置PVA Brush(高吸湿、高弹性、耐磨防静电)与Mega-sonic喷嘴(微射流效应高效去除非纳米颗粒,低损伤),结合摆臂自定义扫描,实现高均匀性清洗与干燥,是保障键合、刻蚀等前道良率的关键装备。
- 离子注入
- 专为6/8英寸晶圆掺杂工艺设计。采用金属离子源与质量分析磁场,实现H⁺等离子注入(能量10-200keV,剂量3E11-1.7E17)。支持多片(25片/批)高效注入,剂量均匀性≤0.3%,兼容350-700μm厚度多种材料,确保高产能与注入稳定性。
- 键合设备
- 在超高真空(<10⁻⁵Pa)下,利用高速氮原子/离子轰击去除氧化膜,并通过原位溅射沉积纳米薄膜,实现常温(约25℃)下原子级牢固键合。集成活化加压原位设计,适配SiC、POI、柔性电子等多材料异质集成,有效消除热失配应力,提升键合强度与产能。
- 关联测试设备
- 用中性原子团簇束完成晶圆、光学元件的纳米级精密修整,是国产替代离子束抛光(IBF)核心装备
- 超原子束Trim
- 基于气体团簇离子束(GCIB)技术,通过纳米级团簇实现低损伤、原子级平坦化刻蚀。利用横向溅射与高去除速率,精准修正晶圆表面膜厚不均,特别适用于SAW/BAW滤波器频率校正及表面改性,提升器件性能与一致性。
- 氧化多晶立式炉
- 立式五段温区与串级PID控制,兼容6/8英寸及透明/非透明片。集干氧/湿氧氧化(SiO₂层膜厚达1.2μm)与低压化学气相沉积(氧化硅/氮化硅/多晶硅)于一体,支持LPSIN、LPTEOS等多种工艺,适用于栅氧化层、隔离层、牺牲层、钝化层及光波导等工艺需求。
- 裂片退火卧式炉
- 专为中温工艺(150-600℃)设计的卧式炉管设备。采用五段独立温区与R型热电偶,恒温区精度±1℃,单点稳定性±0.5℃/24h。集成N₂、O₂、CDA气路,PLC全自动控制推拉舟(定位≤±1.0mm),并配备SECS/GEM通讯接口,精准实现氧化、退火等热处理。
工艺路线 & 量产植入
设备 + 材料 + 工艺配套,快速导入量产
- H-CUT 工艺路线实现200-600nm单晶薄膜与硅基衬底结合,LN & BOX膜厚±1%以内。
- GRD+TRIM 工艺路线高精度表面处理,保障键合界面完美兼容。
工艺调试 & 量产植入 & 技术迭代,从实验室到FAB全程陪跑。
应用场景全覆盖
- 新建材料量产产线
- 已有产线扩建升级
- 高校/科研机构实验室
- 新材料中试线
- 为什么选择青禾晶元整线方案?
- 我们交付的不是一台设备,而是一条“按材料调好、按工艺配好、按产能验证好”的量产线。
整线交付,做不出产品我们负责。
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- 材料领先
- LTOI / LNOI / SiC 复合衬底性能比肩国际,已在头部客户端验证。
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- 设备自主可控
- 关键核心设备自研自产,加工设备定制甄选,保障供应链安全与交付周期。
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- 整线工艺耦合
- 前后工序设备深度耦合,告别自行拼凑的匹配周期长、选型失误、试错成本高。
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- 工艺成熟
- 全流程工艺验证,膜厚控制精度 ±1% 以内,支撑量产稳定输出。
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- 降本增效
- SiC 衬底高质量回收 50 次,LN/LT 回收工艺,大幅降低材料成本。
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- 专利布局 + 团队专业
- 自主知识产权体系,有效规避技术封锁;三大验证推演,闭环落地保障。




















