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硅光异质集成解决方案

行业痛点

硅光器件性能高度依赖SOI顶层硅厚度均匀性,厚度波动直接导致谐振波长漂移(厚度3σ=±1nm→波长漂移±1.4nm)
多种材料(Si、SiN、LN、InP、GaAs等)异质集成时存在晶格失配与热膨胀系数不匹配
波导侧壁粗糙导致光散射损耗,传统CMP无法处理非平面结构
LNOI晶圆尺寸受限(最大8寸),与12寸硅光晶圆尺寸不匹配
解决方案概述
针对硅光异质集成的痛点,青禾晶元提供超原子束表面处理+异质键合全流程解决方案。超原子束技术实现晶圆级厚度均匀性修正(TRIM)、波导侧壁抛光、表面粗糙度优化;结合C2W/W2W异质键合技术,实现LNOI、InP、GaAs等多种光学材料与硅光晶圆的异质集成。
核心解决方案

核心优势
超原子束TRIM
波导层厚度range可优化至1nm,而不显著增加表面粗糙度
波导侧壁抛光
消除刻蚀侧壁波纹,显著降低光散射损耗
高精度异质键合
C2W同时支持裸Chip异质集成、图案Chip高精度混合键合
全流程覆盖
TRIM+抛光+键合,一站式交付
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